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GB/T2423.1電工電子產品低溫試驗
點擊次數(shù)：1697 更新時間：2019-04-04
GB/T2423.1電工電子產品低溫試驗
點擊次數(shù)：66 發(fā)布時間：【2019-02-28】

GB/T2423.1電工電子產品低溫試驗

   GB/T 2423.1-2008/IEC60068-2-1:2007電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫試驗

   本標準所涉及的低溫試驗適用于非散熱和散熱里兩類試驗樣品.本標準于用來考核確定電工,電子產品(包括元件,設備及其他產品)在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的環(huán)境適應性。

   低溫試驗不能用來考核試驗樣品對溫度變化的耐抗性和在溫度變化期間的工作能力,在這種情況下,應選擇溫度變化試驗方法.

  

粵公網安備44190002001386號